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Auteur Yannick De Wilde |
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Lionel Aigouy, Auteur ; Yannick De Wilde, Auteur ; Christian Frétigny, Auteur | Paris : Belin | Echelles, ISSN 1635-8414 | 2006Panorama complet des nouvelles microscopies (microscope à force atomique, à effet tunnel, sondes locales optiques et thermiques), et des applications à venir : étude des propriétés de la matière à l'échelle du nanomètre, nanolithographie, voire [...]