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Titre :
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11e Congrès international de métrologie : Toulon, 20-23 octobre 2003
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Auteurs :
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CONGRÈS INTERNATIONAL DE MÉTROLOGIE (2005), Auteur
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Type de document :
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texte imprimé
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Editeur :
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Senlis (Oise) : CETIM, 2005
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Collection :
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Performances, ISSN 1767-2546
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ISBN/ISSN/EAN :
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978-2-85400-636-0
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Format :
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27 p. / 30 x 21 cm
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Langues:
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Français
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Index. décimale :
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389.1
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Mots-clés:
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mesure
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congrès
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échantillonnage
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Résumé :
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Point sur les nouvelles techniques d'étalonnage et de mesure et présentation de la fonction métrologie et de ses implications dans l'industrie, l'environnement, l'économie et la qualité, au niveau national et international.
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