GEOTRUST SSL CERTIFICATE
Titre : | X-ray tomography in material science |
Type de document : | texte imprimé |
Editeur : | Paris : Hermès science publications, 2000 |
ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-7462-0115-6 |
Format : | 208 p. / ill. / 22 x 16 cm |
Note générale : |
Bibliogr. |
Langues: | Français |
Index. décimale : | 620.1 |
Mots-clés: | matériaux ; radiographie ; tomographie par émission |
Résumé : |
Compte-rendu des travaux effectués lors d'un atelier réunissant des chercheurs européens. Description globale de la tomographie aux rayons-X, introduction aux algorithmes de reconstruction, examen de l'intérêt des sources synchrotron de rayons-X, axé sur les images à contraste de phase. Exemples d'études de matériaux de microstructure hétérogène par tomographie-X. |
Exemplaires
Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
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aucun exemplaire |