GEOTRUST SSL CERTIFICATE
Titre : | Ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces |
Type de document : | texte imprimé |
Editeur : | Les Ulis (Essonne) : EDP sciences, 1984 |
ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-902731-69-5 |
Format : | 533 p. / 24 x 17 cm |
Langues: | Français |
Index. décimale : | 530 (Physique Ouvrages généraux, Théories (dont théorie des quanta)) |
Mots-clés: | optique ; physique |
Résumé : |
Ces méthodes présentent l'avantage d'être non destructives, de pouvoir être utilisées in situ avec des temps de réponse très courts et d'avoir une haute résolution spectrale. |
Exemplaires
Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
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aucun exemplaire |