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Auteur CONGRÈS INTERNATIONAL DE MÉTROLOGIE (2005) (2005) |
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CONGRÈS INTERNATIONAL DE MÉTROLOGIE (2005), Auteur | Senlis (Oise) : CETIM | Performances, ISSN 1767-2546 | 2005Point sur les nouvelles techniques d'étalonnage et de mesure et présentation de la fonction métrologie et de ses implications dans l'industrie, l'environnement, l'économie et la qualité, au niveau national et international.texte imprimé
CONGRÈS INTERNATIONAL DE MÉTROLOGIE (2005), Auteur | Senlis (Oise) : CETIM | Performances, ISSN 1767-2546 | 2006Synthèse des avancées concernant les techniques d'étalonnage et de mesure, la fonction métrologie et ses implications dans l'industrie, l'environnement, l'économie et la qualité, au niveau national et international.