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Titre :
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Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins
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Auteurs :
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René Guinebretière, Auteur
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Type de document :
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texte imprimé
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Mention d'édition :
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2e éd. rev. et augm.
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Editeur :
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Paris : Hermès science publications, 2006
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ISBN/ISSN/EAN :
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978-2-7462-1238-1
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Format :
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361 p. / ill. / 24 x 16 cm
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Note générale :
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Bibliogr. Index
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Langues:
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Français
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Index. décimale :
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548
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Mots-clés:
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radiocristallographie
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polycristaux
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analyse
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Résumé :
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Présentation d'une méthode d'analyse des matériaux par diffraction des rayons X par des échantillons polycristallins et de ses applications en sciences des matériaux. Détail de l'analyse cristallographique des échantillons polycristallins qui peuvent être monophasés ou constitués de l'assemblage de cristaux de différentes phases cristallines.
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